多禾试验设备（上海）有限公司成立于2010年，简称为DHT^®（多禾试验），是专注于半导体可靠性老化测试设备研发、制造与整体解决方案的技术型企业。

       依托十余年环境模拟与精密热控技术沉淀，DHT^®（多禾试验）聚焦集成电路、存储芯片、GPU、功率分立器件等产品的 HTOL、HTRB、存储卡全维度可靠性验证，面向汽车电子、新能源、工业控制、先进封测领域，提供量产级国产化老化测试装备。

       公司自主研发存储芯片老化、GPU 老化、高温反偏老化等系列设备，适配消费级、工业级、车规级芯片严苛测试工况，可实现进口设备替代，满足芯片研发验证、量产筛选、合规认证全流程需求。

       目前推出的高低温存储芯片老化测试系列产品，已在温区、均匀度、带载能力等关键指标上具备对标国际同类设备的能力，服务于国内多条产线，并已经正式量产。

      DHT^®（多禾试验）坚持测控精准、运行稳定、经久耐用的产品理念，具备整机研发、非标定制、安装调试、长期维保完整服务能力，以可靠装备与快速技术响应，护航国产半导体品质升级，致力于成为全球值得信赖的半导体测试设备专业服务商。

      面向未来，我们将继续秉持务实、严谨的态度，聚焦精密检测仪器赛道，着力构建开放式的研发平台、现代化的制造体系和网络化的服务网络，持续为客户创造价值。

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