长期以来，芯片老化测试此类核心设备市场由少数国际巨头牢牢主导。国内高端产线不仅面临高昂的采购与维护成本，更在供应链安全和快速响应上受制于人。

今天，这一局面迎来实质性突破——DHT@（多禾试验）正式推出“高带宽存储芯片老化测试用试验设备”。

该设备不仅填补了国内相关领域的量产空白，更直接对标国际同类领先产品，实现了从“技术突破”到“规模应用”的关键跨越，精准回应产业链核心痛点！

目前，首批已交付！

一、设备介绍

专为高速存储芯片设计，提供高可靠性、量产型老化测试解决方案。

通过在内部模拟高温、高电压等极端工作环境，“高带宽存储芯片老化测试设备”能加速芯片老化过程，提前暴露潜在缺陷，助力筛选早期失效产品，确保芯片在长期使用中的稳定性和耐久性。

二、关键性能

为满足不同的生产节奏与预算，我们首批推出两个容量、两个温位、高速存储等多型号存储芯片老化设备，为您提供丰富的选择空间。

设备均兼容国内外主流BIB板卡，适配国内外主流厂家系统板卡。

1.核心配置

单腔24 slots；双腔48 slots；层间距45mm，为测试板提供充裕空间。

2.带载能力

强大的6.5kW带载能力，满足多芯片并行测试时的高功耗需求。

3.温度控制

多种温位选择：-10℃~150℃；-40℃~150℃；-70℃~150℃；满足从商业级到车规级的不同测试需求。

空载时温度均匀度达±1℃，满载时仍能保持±3℃的优异均匀性，确保测试条件一致、结果可比。

4.自动化与选配

集成测试板自动插拔机构，大幅减少人工操作，提升效率。

自动开关门机构可作为选配，进一步实现测试流程的自动化管理。

三、品质承诺

1. 数据高可靠性与长寿命：从关键物料选型到整机设计，均以工业级耐久标准进行打造，确保设备能够承受不间断运行的严苛考验。

2. 优异的散热与低功耗：创新的散热风道，在保障宽温范围内精确控温的同时，实现了更优的能效表现。

3. 坚实服务保障：为产品提供 “五年保修” 的长期服务承诺，并配备快速响应的本土技术支持团队，为客户解决后顾之忧。