DHT 新品发布第二弹 | 低带宽存储芯片老化测试用试验设备

2025-12-31

DHT@（多禾试验）洞察市场需求，同步推出“低带宽存储芯片老化测试用试验设备”，以卓越的性价比，为更广泛的芯片产品提供坚实的质量后盾！

一、设备介绍

DHT@（多禾试验）“低带宽存储芯片老化测试用试验设备”继承了DHT在高带宽芯片老化测试领域的深厚积淀，并针对主流市场进行了优化：

1. 出货量大，规模生产

精准定位高吞吐、规模化生产场景，一个测试工位可以同时对数千颗主流芯片进行老化测试。

设备兼容性强，可兼容国内外主流BIB板卡，适配国内外主流厂家系统板卡。

2. 功率强劲，效率至上

支持6.5kW以上的带载能力，单次可进行大规模并行测试，极大提升了产线吞吐量和测试效率。

优化的能耗比设计，助力有效控制运营成本。

3. 稳定耐用，智能易用

采用久经考验的硬件平台与温控系统，确保连续作业的稳定性。

配备友好的操作界面和标准化测试程序库，极大降低了设备使用门槛和工程师的调试时间，助力您快速部署、迅速投产。

二、技术规格

三、应用范围

DHT@（多禾试验）“低带宽存储芯片老化测试用试验设备”可广泛应用于：

1. 存储芯片制造与封测环节：用于GPU、eMMC、UFS、LPDDR、DRAM、NAND Flash等各类存储或显示芯片在量产前的可靠性筛选与品质认证。

2. 高端电子设备供应链：为人工智能服务器、云计算数据中心、物联网核心模块的供应商提供高可靠性的芯片筛选方案。

3. 汽车电子领域：满足车规级芯片对极端温度环境适应性和超长寿命的严苛验证需求。

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