存储芯片老化系列产品
设备介绍：
专为存储芯片设计的高可靠性老化测试解决方案，用于模拟极端工作环境，加速芯片老化过程，提前暴露潜在缺陷，确保芯片在长期使用中的稳定性和耐久性。
提供两个容量，两个温位，高速存储低速存储共计八个型号存储芯片老化设备。
是国内首款能满足测试存储芯片老化的量产机型。
主要性能：
兼容国内外主流BIB板卡
适配国内外主流厂家系统板卡
DHT自研分量智控技术算法
品质保证：
低功耗
高可靠性
低故障率
长寿命设计
五年保修
应用领域：
存储芯片制造商、封测厂商、高端电子设备供应商
汽车电子、人工智能、云计算、物联网等关键行业
相关图片
上一篇：没有了
下一篇：没有了
所有产品
联系我们
联系人
021-57494498
E-mail: sales@doaho.com
联系我们
电话：
地址：上海市奉贤区地灵路950弄4号楼
邮箱：sales@doaho.com
021-57494498
地址：上海市奉贤区地灵路950弄4号楼
邮箱：sales@doaho.com
微信公众号
