低速存储芯片老化系列产品
设备介绍：
本产品是专为低速存储芯片设计的高可靠性、量产型老化测试解决方案，以卓越的性价比，为更广泛的芯片产品提供坚实的质量后盾。
技术规格与核心性能：
技术规格 | 核心构型 | 单腔24 slots；双腔48 slots |
层间距设计 | 45mm | |
自动化选项 | 测试板自动插拔机构； 自动开关门机构（可选） | |
性能指标 | 温度范围(℃) | -10℃~150℃；-40℃~150℃；-70℃~150℃（可选） |
温度均匀度(℃) | 空载±1℃；满载±3℃ | |
带载能力（kw） | 6.5kw |
核心优势
1. 量产化设计：针对大规模生产环境优化，满足高吞吐量测试需求。
2. 高兼容性：兼容国内外主流BIB板卡，适配国内外主流厂家系统板卡，集成便捷。
3. 智能控制：搭载DHT自研分量智控技术算法，实现测试过程的精准与稳定控制。
4. 灵活配置：提供两个容量、两个温位、低速存储等多种型号的存储芯片老化设备。
5. 卓越品质：低功耗设计，高可靠性，低故障率，长寿命运行。
典型应用：
1. 适用芯片：DDR3/DDR4/DDR5, LPDDR4/LPDDR5, eMMC, UFS, NAND Flash等存储芯片。
2. 应用领域：GPU、存储芯片制造商、封测厂商、高端电子设备供应商；汽车电子、人工智能、云计算、物联网等关键行业。
品质承诺：
1. 数据高可靠性与长寿命：从关键物料选型到整机设计，均以工业级耐久标准进行打造，确保设备能够承受不间断运行的严苛考验。
2. 优异的散热与低功耗：创新的散热风道，在保障宽温范围内精确控温的同时，实现了更优的能效表现。
3. 坚实服务保障：为产品提供 “五年保修” 的长期服务承诺，并配备快速响应的本土技术支持团队，为客户解决后顾之忧。
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